基于颜色直方图的电路板表面缺陷检测
来源：计算机集成制造系统杂志2024年第7期北京时间：
作者：仰梓淮, 黄海鸿, 刘贺, 刘赟, 李新宇, 刘志峰
单位：1.合肥工业大学机械工程学院2.合肥工业大学机械工业绿色设计与制造重点实验室
摘要：为了提高废旧电路板的回收再利用率,针对回收电路板常见表面缺陷,在均匀分块基础上,提出了四叉树分裂颜色直方图缺陷检测方法。该方法能快速定位电路板表面缺陷,并通过支持向量机(SVM)实现缺陷分类,进而为电路板的二次利用提供质量保障。重点分析了分块大小与判断阈值对缺陷定位结果的影响,在保证检测精度的同时,检测速度相比均匀分块方法得到明显提升。与Faster-RCNN网络方法进行对比,结果表明该方法定位效果好,分类准确率平均达81%。
关键词：机器视觉,二次利用电路板,表面缺陷检测,颜色直方图,四叉树分裂
基金资助：国家重点研发计划资助项目(2019YFC1908002)。
