参数化的嵌入式乘法器测试技术研究

来源：电子测量技术杂志2016年第6期北京时间：

作者：肖景

单位：1. 武陵山片区生态农业智能控制技术湖南省重点实验室怀化418000; 2. 怀化学院怀化418000

摘要：设计并实现了一种利用内建自测试（builtin selftest，BIST）技术对Alteral公司FPGA芯片中嵌入乘法器资源实施故障检测与诊断的方法。该方法利用VHDL语言设计一种独立于乘法器内部结构测试算法，通过3次配置下载，可以检测出芯片中嵌入乘法器资源在工作模式下所有固定故障类型，同时能够对故障乘法器进行定位。最后在被测乘法器测试模型之上设计了完整的BIST测试电路，通过对该电路的实测，验证了文中测试方法的准确性与有效性。

关键词：FPGA;VHDL;乘法器;BIST

基金资助：湖南省自科基金（2015JJ6090）、怀化学院校级课题（HHUY201303）资助项目