圆片测试中的熔丝修调方法研究
来源：电子测量技术杂志2016年第6期北京时间：
作者：高剑
单位：北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088
摘要：丝修调因工艺简单、速度快，被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中，但其类型多样，控制电路繁琐，修调受电阻变化的影响且不可恢复，因此精度不易控制，测试效率低。针对此问题，提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路，展示了减小测试误差的计算方法，最后，改进了传统测试流程，提出了以合并测试步骤及并行测试为基础的简化方法。测试结果表明，该方法操作性强，能够有效提高测试效率和准确率。
关键词：混合信号电路;修调;熔丝;圆片测试
基金资助：北京市自然科学基金委员会北京市科学技术研究院联合（L150009）资助项目
