基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究

来源：电子测量技术杂志2017年第6期北京时间：

作者：韩东

单位：北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

摘要：为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范，分析其内部各个模块的处理方法，使用LabWindows/CVI软件环境，设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换，通过对比转换生成的文本和标准ATD文本，验证了程序转换结果的正确性，最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50，从而实现测试数据标准化。测试实验结果表明，该算法能够高效的实现双向转换，规范了测试数据的结构，提升了测试数据的可分析性。

关键词：自动测试系统;二进制文件;测试数据标准化

基金资助：北京市自然科学基金委员会-北京市科学技术研究院联合资助项目（L150009）