一种低复杂度的激光打标拐点检测算法
来源：激光技术杂志2015年第2期北京时间：
作者：梁文斌, 谢跃雷, 彭诚诚, 王太兴
摘要：为了改善激光打标系统中图像解算的拐点检测率,提高激光标刻质量,采用一种基于斜率差的拐点检测算法,进行了理论分析和实验验证。该算法计算出图像数据中相邻两点间偏移坐标的斜率,并以此相邻坐标点连线斜率之差作为判决条件检测提取拐点。结果表明,新算法较传统算法而言,在拐点检测更为准确的同时,具有较小的运算复杂度;应用该算法能够修正传统打标系统中存在的拐点工艺问题,使图像拐点在提取过程中能够更节省存储空间,减少了运算量。
关键词：激光技术, 拐点检测, 斜率, 图形分解
