基于四探针法的磁性微米线电阻特性研究

来源：电子测量技术杂志2025年第10期北京时间：

作者：熊心怡，张玉东，高昕，杨轩，卫荣汉

单位：1.郑州大学力学与安全工程学院 郑州 450001;2.河南省微机电系统制造与应用工程技术研究中心 郑州 450001

摘要：微纳米尺度下，磁性样品的电阻率会受到温度、尺寸和外加磁场等多种因素的影响。传统两线法测量样品阻值容易受到外界干扰，且由于接触电阻的存在会导致测量结果不够精确，影响实验结果。本文采用四探针法对磁性微米线样品的电阻特性进行研究，首先基于光刻工艺制备两种不同尺寸的镍微米线，同时配合能够对温度和磁场进行精确控制的测量系统，研究环境温度和外部磁场对不同尺寸样品阻值的影响。实验结果表明，镍微米线的阻值在-250℃以下的低温区几乎不随温度发生变化，之后随温度的升高近似呈线性增加；在常温下，镍微米线的阻值随着外部磁场强度的升高而增大，当磁场强度达到了2 000 Gauss后，样品阻值基本保持稳定。文章从微观电子输运角度，对磁性微米线电阻的温度效应、尺寸效应和磁阻效应进行了解释。

关键词：四探针法;磁性微米线;电阻率;温度效应;磁阻效应

基金资助：国家自然科学基金面上项目（52171193）、国家自然科学基金青年项目（12102397）、国家留学基金（202407040056）项目资助