Sandia频移法在电子负载孤岛检测中的
来源：电子测量技术杂志2016年第4期北京时间：
作者：侯立健
单位：军械工程学院石家庄050003
摘要：以单相馈能型电子负载为研究对象，详细分析了Sandia频移式孤岛检测法(SFS)原理，描述其检测盲区，并对SFS算法中的参数进行优化。与此同时，将SFS与Sandia电压偏移法(SVS)结合，并辅助过/欠频率、过/欠电压保护，形成一种复合型的孤岛检测法。最后在MATLAB/Simulink环境下，搭建了仿真模型，仿真结果表明，参数优化后，系统可实现特定负载下的无盲区检测，将SFS和SVS结合使用明显提高检测效率，能够快速有效地进行孤岛保护，输出电能质量较高，验证了设计方案的可行性和优越性。
关键词：电子负载;频移式;检测盲区;复合型
