多通道固态存储器测试系统设计与研究

来源：电子测量技术杂志2021年第9期北京时间：

作者：李张倩，马银鸿，洪应平，刘文怡，熊继军，张会新

单位：1.中北大学电子测试技术国家重点实验室 太原 030051;2.仪器科学与动态测试教育部重点实验室 太原 030051

摘要：针对现有存储器测试系统测试通道少、被测存储介质种类单一和自动化程度低的问题，设计了一种通用自动化存储器测试系统。系统由上位机、硬件测试电路和千兆以太网组成。上位机在VS2015环境下开发，对系统下发测试指令并显示测试结果，硬件测试电路完成对存储介质数据的读取及回传，千兆以太网实现两者数据的高速交换。本系统可以对多路SATA接口和 ONFI接口的存储器进行性能测试，从而提高了存储器的测试效率，降低了测试成本。多次实验结果表明，该系统具有良好的环境适应性和可扩展性，在航天领域有较高的工程应用价值。

关键词：存储器;自动化;千兆以太网;SATA;ONFI;可扩展性

基金资助：国家自然科学基金青年科学基金（51705475）