多波位测量通用波控分机研究与应用

来源：电子测量技术杂志2024年第17期北京时间：

作者：李丹丹

单位：清华大学电子工程系电磁实验中心 北京 100084

摘要：相控阵天线暗室测量在相控阵天线研制中起着重要作用。在暗室测量中，为了解决相控阵天线测量内容多、效率低、精度低、系统普适性差、成本高的问题，本文设计出一款通用波控分机，通过硬件设计，预留多种通信接口，固定接口协议，适用多类相控阵天线；通过软件编程，精确测量脉冲、波束切换时间，匹配暗室测量系统，应用到平面近场暗室、紧缩场暗室测量中，并给出测试流程及时序图。实验结果分析表明，多波位与单波位测量方向图扫描精度基本一致，测试效率显著提升，降低测量成本。通用波控分机的应用，实现不同类型多波位相控阵天线在微波暗室中快速、准确的测量。

关键词：暗室;相控阵天线;多波位;波控分机

基金资助：清华大学实验室创新基金（53100800323）项目资助