基于SocFPGA工件表面缺陷快速检测研究

来源：电子测量技术杂志2024年第21期北京时间：

作者：翟浩然，南钢洋，白雪

单位：齐鲁工业大学(山东省科学院激光研究所) 济南 250100

摘要：针对当前工件检测中，工件表面缺陷检测存在处理速度慢的问题，设计出一种具有高速互联总线的SocFPGA架构解决方案。首先将图像数据灰度化、中值滤波、自适应阈值分割以及形态学操作，消除图像中的污损部分，凸显缺陷像素。其次，利用像素阈值算法与投票算法，标注了图像表面缺陷位置。最后，采用铜板试样并结合OV5640摄像头，搭建了一套工件表面缺陷检测系统。测试表明，当缺陷直径不小于0.5 mm，缺陷检出率约为90.24%，处理1帧图像的时间约为0.62 μs，实现了工件表面缺陷图像的实时在线检测，为该领域研究提供一定的参考。

关键词：FPGA;缺陷检测;图像处理;像素阈值算法

基金资助：山东省自然基金面上项目（ZR2023ME073）资助