数字通道传输延迟时间测量方法研究
来源：计算机工程与科学杂志2015年第10期北京时间：
作者：顾梦霞
单位：湖北工业大学工程技术学院，湖北 武汉 430068
摘要：在集成电路测试领域，传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度，也是集成电路测试系统交流参数测量准确的重要影响因素。详细分析了集成电路测试系统传输延迟时间产生的原因，及其对待测器件交流参数测量结果的影响。提出了基于时域反射技术的集成电路测试系统数字通道传输延迟测量方法，并在泰瑞达J750EX集成电路测试系统上进行了实验验证。通过对实验数据的分析，表明该方法能有效测量数字通道传输延迟时间，提高集成电路测试系统交流参数测量准确度。
关键词：传输延迟时间,时域反射测量,集成电路测试系统,数字通道,
