一种部分流水的多塔三维SoC测试时间优化算法

来源：计算机工程与科学杂志2021年第11期北京时间：

作者：邵晶波, 王丹, 王岩, 张瑞雪

单位：（1.哈尔滨师范大学计算机科学与信息工程学院，黑龙江 哈尔滨 150025；2.哈尔滨金融学院计算机系，黑龙江 哈尔滨 150030）

摘要：针对硬晶片构成的多塔三维SoC绑定中测试，提出考虑测试访问机制、层间硅通孔数和测试功耗约束的测试时间优化算法。只要任意一种测试资源约束不满足待调度晶片测试，就依次释放最早结束测试的晶片测试资源，直到待调度晶片尽可能提前测试为止，以此实现该晶片与未结束测试晶片的部分流水。选用ITC02测试基准电路中的5种典型电路，手工搭建2种塔内包含子塔的多塔三维SoC。实验结果表明，与已有算法相比，提出的算法减少了空闲时间块，显著缩短了总测试时间；实验还发现，与增加TSV数相比，增大测试引脚数更能有效减少多塔三维SoC的总测试时间。

关键词：多塔三维SoC,部分流水,测试时间,空闲时间块,

基金资助：黑龙江省自然科学基金(LH2019F027);哈尔滨师范大学科技发展预研项目(901-220601094)