《电子测量技术杂志》发表论文赏析

基于变点处数据处理的剩余寿命预测

来源:电子测量技术杂志2025年第2期北京时间:

作者:白晏年,李小波,杨志豪,刘心怡,史尚贤

单位:上海工程技术大学城市轨道交通学院 上海 201620

摘要:针对两阶段剩余寿命预测模型变点后初始时刻预测精度较低的问题,提出了一种基于变点处数据处理的剩余寿命预测算法。首先利用维纳过程构建退化模型,采用期望最大化算法与贝叶斯方法相结合实现参数更新;接着对退化数据进行变点识别,确定变点前的部分退化数据用于变点后初始时刻的寿命预测,最后进行了分别用仿真数据与NASA试验数据进行了算法验证。结果表明,该算法进一步提高了剩余寿命的预测精度。通过NASA试验数据的预测结果看,相较于单一阶段寿命预测模型和两阶段寿命预测模型,本文算法的均方根误差分别降低了10.76和1.78,对产品的剩余寿命预测具有重要意义。

关键词:剩余寿命预测;维纳过程;两阶段模型;变点处数据处理

基金资助:国家自然科学基金(51907117)项目资助

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