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IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS
简称:IEEE DES TEST COMPUT
期刊ISSN:0740-7475
影响因子:0
是否OA:No
出版地:UNITED STATES
年文章数:41
审稿速度:>12周,或约稿
平均录用比例:较易

官方网站:http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54

投稿网址:https://mc.manuscriptcentral.com/dt-cs

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