单边合格品链长t控制图设计
来源：计算机集成制造系统杂志2016年第6期北京时间：
作者：胡雪龙,孙金生,刘利平,吴姝
单位：1.南京理工大学自动化学院2.南京师范大学商学院3.武汉理工大学物流工程学院
摘要：针对过程方差估计不精确的问题,采用t统计量代替传统X统计量,提出一种单边合格品链长t控制图来监控过程均值偏移。采用马尔科夫链方法构建了该控制图的状态转移矩阵,并推导出其平均运行链长指标。在保证过程处于受控状态的统计性能基础上优化失控状态下的平均运行链长指标,从而获得控制图的最优决策变量和最优性能指标。仿真结果表明,SCRL&t控制图的性能明显优于传统合格品链长t控制图,当过程均值偏移较小时优势更加明显。
关键词：统计过程控制,t控制图,平均运行链长
基金资助：国家自然科学基金资助项目(71402072)。
