METROLOGIA
SCI/SCIE
- 杂志名称：计量学
- 简称：METROLOGIA
- 期刊ISSN：0026-1394
- 大类研究方向：工程技术
- 影响因子：3.447
- 数据库类型：SCI/SCIE
- 是否OA：No
- 出版地：FRANCE
- 年文章数：100
- 小类研究方向：仪器仪表
- 审稿速度：偏慢,4-8周
- 平均录用比例：较易
官方网站：http://iopscience.iop.org/0026-1394/
投稿网址：http://mc04.manuscriptcentral.com/met-bipm
METROLOGIA
英文简介The leading international journal in pure and applied metrology, published by IOP Publishing on behalf of Bureau International des Poids et Mesures (BIPM).
METROLOGIA
中文简介国际领先的纯计量和应用计量杂志，由IOP出版社代表国际计量局(BIPM)出版。
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