IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

SCI/SCIE

杂志名称：电子器件汇刊

简称：IEEE T ELECTRON DEV

期刊ISSN：0018-9383

大类研究方向：工程技术

影响因子：2.704

数据库类型：SCI/SCIE

是否OA：No

出版地：UNITED STATES

年文章数：759

小类研究方向：工程：电子与电气

审稿速度：约4.7个月

平均录用比例：较易

官方网站：http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=16

投稿网址：https://mc.manuscriptcentral.com/ted

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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

英文简介

IEEE Transactions on Electron Devices publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and ion integrated circuit devices and interconnects.

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

中文简介

IEEE《电子器件学报》发表了有关电子和离子集成电路器件和互连的理论、建模、设计、性能和可靠性方面的原创和重大贡献。

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

中科院分区（请以最新为准）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	2区	PHYSICS, APPLIED 物理：应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	2区 3区	否	否

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

JCR分区（请以最新为准）

JCR分区等级	JCR所属学科	分区	影响因子
Q2	PHYSICS, APPLIED	Q2	3.221
Q2	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	Q2	3.221

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中科院JCR分区历年趋势图

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