基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器

来源：浙江大学学报·工学版杂志2016年第3期北京时间：

作者：王树朋,黄凯,严晓浪

单位：1.浙江大学 信息与电子工程学系,浙江 杭州 310027； 2. 浙江大学 超大规模集成电路研究所,浙江 杭州 310027

摘要：为了更好地建立覆盖率和测试产生器之间的联系,产生高质量的测试,提出基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器.该测试产生器利用一种简单、准确的测试编码方法对测试进行编码,并利用基于功能覆盖率的适应度函数评估测试的优劣.通过遗传算法(GA)建立覆盖率与测试产生器之间的联系,分析覆盖率和测试之间的关系,根据分析结果改变测试产生器的约束和限制,驱动测试产生器生成新一代的测试,新一代的测试可以覆盖到上一代的测试无法覆盖的功能点.实验结果表明：在2个高性能的32位多核处理器的验证环境中,该测试产生器可以明显减少仿真时间,提高验证效率．

关键词：

基金资助：国家自然科学基金资助项目（61100074）,核高基国家科技重大专项资助项目（2012ZX01039 004）；中央高校基础研究基金资助项目（2013QNA5008）.