《系统工程与电子技术杂志》发表论文赏析
作者:张点, 邢云燕, 蒋平
单位:国防科技大学系统工程学院, 湖南 长沙 410073
摘要:针对现行可靠性鉴定试验标准GJB-899A中提供的试验鉴定方案存在试验时间过长或试验风险过大,且当前可靠性鉴定试验设计大多只依赖于产品自身的寿命数据,而对产品研制过程中的可靠性增长数据利用较少的问题,以寿命服从指数分布的产品为研究对象,基于美军陆军装备分析中心提出的可靠性增长模型AMSAA模型对产品研制阶段的可靠性增长过程进行建模。再利用Bayes方法基于产品可靠性增长过程的试验数据来获取产品寿命分布,计算产品可靠性鉴定试验方案的生产方风险和使用方风险,进而推导得到满足风险要求的产品可靠性鉴定试验方案。通过实例分析以及与GJB899A所提出的试验方案对比,验证了所提方法的可行性与先进性。
关键词:可靠性鉴定试验,可靠性增长过程,指数分布,Bayes方法
基金资助:国家自然科学基金(72271239)