《土壤学报杂志》发表论文赏析

变用扫描电镜对几种土壤特征层的微形态观察

来源:土壤学报杂志1980年第2期北京时间:

作者:谢萍若,左敬兰

单位:谢萍若,;,左敬兰,;,

摘要:近十年来,扫描电镜已在土壤微形态和矿物风化超微特征方面广泛应用,丰富了微土壤学的研究内容[3,4]。本文应用JEM-100B电子显微镜二次电子扫描附属装置对东北地区几种土壤(表1)的特征层进行了观察,试图通过对土体中粘粒和其它细土物质部分的表面形态、空间排列和它们在形成微孔隙中的结构特征观察,进一步认识土壤中粘粒和某些细土物质的性状和作用。

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