《土壤学报杂志》发表论文赏析

X射线吸收精细结构光谱在土壤中的应用

来源:土壤学报杂志2008年第1期北京时间:

作者:周世伟,马义兵,徐明岗,罗磊,张淑贞

单位:周世伟,中国农业科学院农业资源与农业区划研究所 北京100081;;,马义兵,中国农业科学院农业资源与农业区划研究所 北京100081;;ybma@caas.ac.cn,徐明岗,中国农业科学院农业资源与农业区划研究所 北京100081;;,罗磊,中国农业科学院农业资源与农业区划研究所 北京100081;;,张淑贞,中国科学院生态环境研究中心 北京100085;,

摘要:由于X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS)可以原位探测吸收原子的2~3个邻近配位壳层,获得目标元素的电子结构信息和化学结构信息,所以XAFS已成为微观领域最重要的结构分析工具,丰富了我们对元素的重要化学性质和反应过程的认识。本文简述了XAFS的基本原理,探讨了样品制备、测试及数据分析等过程需关注的问题,重点综述了应用XAFS研究土壤重金属和营养元素的形态、土壤固-液界面的反应过程和机理,并指出其应用的局限性和未来发展的前景,旨在推动我国XAFS在土壤科学中的应用。由于土壤中界面反应的复杂性,XAFS应结合其他结构分析技术,结构分析技术应结合宏观数据和计算机模拟,土壤学应与其他学科交叉、融合,只有这样,才有可能在时间和空间尺度上阐明土壤组分在环境界面上的复杂反应过程和机理。

关键词:X射线吸收精细结构(XAFS);元素形态;界面反应;土壤

基金资助:国家自然科学基金项目(40571071);国家重点基础研究发展规划项目(2002CB410809);土壤与农业可持续发展国家重点实验室研究基金(0551000014)资助

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