宽带横电磁波小室设计与测试应用

来源：南京信息工程大学学报·自然科学版杂志2021年第4期北京时间：

作者：袁钟柱

单位：袁钟柱,南京信息工程大学 电子与信息工程学院, 南京, 210044,万发雨,南京信息工程大学 电子与信息工程学院, 南京, 210044,fayu.wan@nuist.edu.cnis_first_author:0,is_contact_author:,sequence:2,first_name:,middle_name:,last_name:,resume:,institute_superscript:

摘要：本文提出了一种符合IEC标准的横电磁波（TEM）小室，用于集成电路的电磁兼容测试.该TEM小室可在0~3 GHz内实现反射系数小于-12 dB，传输系数优于-2.5 dB.本文采用三维电磁仿真软件（Computer Simulation Technology，CST）对TEM小室的阻抗、S参数、场均匀性以及被测物（EUT）对场的影响进行仿真设计，加工实测并与商业产品进行了对比.最后，参考了IEC标准制作了电磁兼容测试板，并以TEM小室对集成电路（IC）芯片的辐射发射进行测量，分析测量结果有助于改善集成电路电磁兼容性.

关键词：TEM小室;S参数;场均匀性;IC芯片;电磁兼容

基金资助：国家自然科学基金（61971230）