基于CPCI总线的数字板边扫设计
来源：雷达科学与技术杂志2015年第4期北京时间：
作者：曹俊锋,方云
单位：中国电子科技集团公司第三十八研究所
摘要：在数字化系统的发展中,先进FPGA和DSP等大规模集成电路得以广泛应用,其测试的困难伴随而来。以某电路板为例,进行了可测试性分析,该板应用了高端的FPGA和DSP芯片,以及CPCI总线接口,是数字化整机的典型代表。还介绍了边界扫描测试开发软件Scanworks,并通过Scanworks进行了该板的测试程序集(TPS)开发,通过开发结果来看,该TPS能有效解决CPCI总线形式下数字电路板的边扫测试,能有效覆盖该板的焊接和器件类故障,对于该电路板的批量生产检测和维护有着重要的意义。
关键词：可测试性,CPCI总线,TPS开发,边界扫描,
