《机械与电子杂志》发表论文赏析
作者:吴本南;叶锐
单位:中国电子科技集团公司第三十八研究所,安徽 合肥 230088
摘要::针对 T/R组件典型封装结构,分析了冷板构型和壳体厚度等参数对组件热性能的影响。结果 表明,当壳体厚度大于1.5mm 时,当壳体热阻成为影响散热的主要因素,且通过加入高导热材料可以有效 提升芯片和组件的散热能力。
关键词::热阻;散热;T/R组件
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