Cr2O3掺杂量对SnO2压敏电阻微观结构和电气性能的影响

来源：机械工程材料杂志2024年第1期北京时间：

作者：郝亚超, 赵洪峰, 谢清云

摘要：以SnO2粉、CuO粉、Nb2O5粉、Cr2O3粉为原料,采用粉末冶金技术烧结制备（98.95-x）SnO2-1CuO-0.05Nb2O5-xCr2O3（x=0,0.01,0.02,0.03,0.05,物质的量分数/%）压敏电阻,研究了Cr2O3掺杂量对该压敏电阻微观结构和电气性能的影响。结果表明：随着Cr2O3掺杂量的增加,烧结试样的相对密度、收缩率、平均晶粒尺寸均先增大后减小,当Cr2O3物质的量分数为0.02%时相对密度和收缩率最高,Cr2O3物质的量分数为0.01%时晶粒尺寸最大,粒径分布最均匀；随着Cr2O3掺杂量增加,SnO2压敏电阻的电压梯度增大,泄漏电流密度先减小后增大,非线性系数则先增大后减小,当Cr2O3物质的量分数为0.02%时,压敏电阻的泄漏电流密度最小,非线性系数最大,电压梯度较高,综合电气性能最好。

关键词：SnO2基压敏电阻, Cr2O3, 电气性能, 微观结构