一种用于微小表面缺陷增强的亮区抑制扩散模型
来源：计算机应用与软件杂志2025年第9期北京时间：
作者：周国栋, 张墩利
摘要：针对电机磁瓦图像对比度低、噪声严重、存在亮条纹干扰、表面缺陷检测困难的问题。提出一种具有亮区抑制功能的各向异性扩散模型，设计出亮区特征描述算子用来区分缺陷和干扰，再构造出新的扩散系数函数。实验结果表明，相比同类算法，该模型在背景平滑、边缘检测、图像分割和缺陷识别上都有明显优势，对气孔和裂纹缺陷的检测准确率分别达到 95% 和 89%。该研究有效增强了磁瓦的低对比度图像，提高了缺陷检测精度，具有较高的工程应用潜力。
关键词：图像处理, 亮区特征, 自适应扩散模型, 磁瓦表面缺陷
