基于异步时钟的SoC功耗约束测试调度优化

来源：计算机研究与发展杂志2015年第11期北京时间：

作者：凌立,江建慧,

摘要：测试调度是一种能有效减少片上系统(system-on-chip,SoC)测试耗时(testapplicationtime,TAT)以降低测试成本的经典技术.然而，随着功耗问题的日益加剧，功耗约束成为测试调度中必须考虑的重要问题.可以调节各测试周期长度的异步时钟测试在对单个电路进行测试用时优化时效果显著，但直接将其应用于SoC测试调度并非总能获得最优的调度结果，使用传统测试调度模型往往会产生明显非最优的结果.在结合图论中团(clique)的概念，并分析异步时钟机制的特点后，提出一种将异步时钟特性应用于功耗约束SoC测试调度的方案.使用测试兼容图(testcompatibilitygraph,TCG)和混合整型线性规划(mixedintegerlinearprogramming,MILP)建立相对应数学模型，理论分析和在ITC02基准SoC集上的模拟实验结果表明，该方案能有效地减少测试耗时.

关键词：SoC测试调度, 功耗约束, 异步时钟, 混合整型线性规划模型, 团,