三重晶格光子晶体方形点缺陷缺陷模特性研究
来源：计算机技术与发展杂志2015年第02期北京时间：
作者：孙会;陈鹤鸣
摘要：文中提出一种新型三重三角晶格光子晶体，应用平面波展开法( PWM )分析其带隙结构，应用时域有限差分法( FDTD)研究方形点缺陷的尺寸和旋转角度对缺陷模特性的影响。仿真结果表明，该光子晶体的光子禁带处于THz波段范围内，且禁带宽度很宽，达到0.19562。当方形点缺陷旋转角度为10毅时，改变点缺陷尺寸，此时缺陷模个数发生变化，并且随着点缺陷尺寸的增大，缺陷模波长往长波长方向移动；当方形点缺陷边长为22.5μm时，改变点缺陷旋转角度，此时缺陷模位置基本不变，但是缺陷模个数发生变化。
关键词：三重三角晶格;光子晶体;方形点缺陷;THz波段;缺陷模特性
