RFID 系统克隆标签检测方法综述

来源：计算机技术与发展杂志2022年第08期北京时间：

作者：孔春明;黄茗涵;徐鹤

单位：1. 南京邮电大学 贝尔英才学院,江苏 南京 210023;2. 南京邮电大学 计算机学院、软件学院、网络空间安全学院,江苏 南京 210023

摘要：随着物联网的发展和无线射频识别技术(radio frequency identification,RFID)的广泛应用,RFID 系统的安全问题越发突出。 其中克隆标签的出现极大地阻碍了 RFID 系统的大规模发展,成为当前一个亟待解决的难题。 通过总结分析目前 RFID 克隆标签检测领域的一些主流方法,旨在为后续研究更有效的 RFID 克隆标签检测策略奠定基础。 针对目前已知的一些检测方法,该文将克隆标签检测方法归纳总结为射频指纹、同步秘密、轨迹分析和碰撞检测四大类,并较为系统地对这四大类方法所包含的具体策略进行了研究,同时对这些方法策略进行了横向与纵向的对比分析。 目前这四类方法都存在一定的缺陷,导致其无法直接应用于现有 RFID 系统进行克隆标签检测或者应用条件较苛刻。 针对目前这些方法存在的问题,认为匿名 RFID 系统克隆标签的分布式检测是未来的一个主要研究方向。

关键词：无线射频识别;克隆标签;射频指纹;同步秘密;轨迹分析;碰撞检测