改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法

来源：计算机工程与应用杂志2024年第2期北京时间：

作者：陈乐, 周永霞, 祖佳贞

单位：中国计量大学 信息工程学院，杭州 310018

摘要：偏光片是液晶显示器的重要组成部分，其表面缺陷不仅会降低液晶显示器的显示质量，甚至可能造成整个液晶面板的报废。针对偏光片表面缺陷存在尺度差异大、形状变化多样的问题，提出一种改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法。提出自适应平衡特征金字塔（ABFP）模块充分融合主干网提取的多级特征，并通过单个卷积增加检测分支，进一步增强模型的多尺度检测能力。在ABFP中引入注意力模块CBAM关注重要特征。采用CIoU损失函数的同时使用Mish激活函数替代SiLU激活函数。实验结果表明，改进的算法在偏光片表面缺陷数据集上的mAP50和mAP50：95分别达到92.97%和55.16%，相比YOLOX-S（FPN）提升了1.86和1.34个百分点，每秒检测帧数（FPS）达到50，基本满足工业实时检测的需求。

关键词：偏光片表面,缺陷检测,YOLOX-S,自适应平衡特征金字塔,CIoU,Mish