嵌入式设备固件模糊测试技术综述

来源：计算机工程与应用杂志2025年第23期北京时间：

作者：陈菁菁, 王正武, 兰文尉, 张瑞宸, 张亚东, 崔展齐

单位：北京信息科技大学 计算机学院，北京 100192

摘要：为确保嵌入式设备的安全可靠，需要对嵌入式设备固件进行充分测试，以及时发现并修复其中的漏洞。近年来，有研究人员将模糊测试技术应用到嵌入式设备固件的测试中，有效提高了测试效率。总结了2014年至2024年关于嵌入式设备固件模糊测试的相关研究成果，将嵌入式设备固件模糊测试过程分为三个阶段：预处理、测试环境建立、模糊测试执行，并分别介绍了各阶段的研究成果。讨论了现有嵌入式设备固件模糊测试的数据集和评估指标，并对嵌入式设备固件模糊测试未来的研究方向进行展望，为研究人员提供参考。

关键词：模糊测试,嵌入式设备固件测试,嵌入式安全,固件仿真,固件模糊测试