针对AES密钥扩展的电压故障注入攻击
来源：计算机工程杂志2019年第9期北京时间：
作者：段晓毅, 田丽娜, 张磊, 王建新, 李秀滢, 张恺健
单位：北京电子科技学院 电子信息工程系, 北京 100070
摘要：针对高级加密标准（AES）算法，提出一种简单高效的故障注入攻击方法。通过瞬时降低密码芯片供电电压产生低压毛刺，使芯片在密钥扩展函数中进行密钥赋值时跳过赋值循环语句，造成密钥赋值错误，从而缩短参与运算密钥的未知字节长度。结合注入故障后输出的错误密文，可通过穷举猜测的方式恢复初始密钥未知字节。攻击测试结果表明，通过该方法执行一次有效故障注入攻击能得到4字节长度初始密钥，即对于128位AES算法，攻击者仅需猜测4×232次就能到初始密钥。
关键词：故障注入,电压,密钥扩展,循环语句,密文
基金资助：国家自然科学基金（61701008）；中央高校基本科研业务费专项资金（2017LG05，2017CL-HSM）。
