数字IO电路板的嵌入式测试性设计方案

来源：计算机测量与控制杂志2014年第7期北京时间：

作者：杜影,吴朝华,李洋,徐鹏程

摘要：近年来,随着DSP、FPGA等大规模集成电路的发展,电子系统的性能也在大大提高,但同时给电子系统带来了新的测试和故障诊断问题；为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向；文中从嵌入式测试的基本概念出发,介绍了嵌入式边界扫描、非侵入式测试等先进的板级嵌入式测试技术,并阐述了模拟嵌入式测试性设计的难点和基础电路原则,同时给出了基于FPGA的嵌入式测试控制器设计方案；然后,面向数字IO电路板,针对其关键功能电路展开嵌入式测试性设计,简要说明了测试程序的开发与下载；根据测试验证结果,嵌入式测试性设计可以增强测试自动化、提高测试效率,从而能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。

关键词：嵌入式测试;可测性;边界扫描;BIST [HJ1.3mm]

基金资助：总装备部预研项目(51317040204)。