基于DSP和LabVIEW的1553B总线芯片测试系统的设计与实现

来源：计算机测量与控制杂志2014年第8期北京时间：

作者：孙先松,王鲁涛

摘要：B芯片测试系统由上位机和下位机两部分构成,下位机是用两片DSP芯片作为控制芯片构建两个1553B总线的终端,上位机在计算机上用LabVIEW平台控制一块1553B的总线板卡,并且通过串口发送各种测试命令给下位机,共同完成对DDC公司的BU-61580系列芯片的内部功能、总线协议功能及电气特性测试,对被测芯片处于BC、RT、MT三种不同类型终端时的各种功能与时序进行直观显示；测试环境与芯片在实际运用中效果一样,可以对芯片进行筛选,成本低；通过在某单位实际应用表明,该测试系统具有测试简单、功能全面、性能稳定的特点,系统还可自检,满足了用户的要求。

关键词：DSP;1553B;BU-61580;TMS320F2812;LabVIEW;芯片测试