《计算机测量与控制杂志》发表论文赏析
作者:杜东海,李锦明,程龙,丁宁
摘要:鉴于K9MDG08U5M在存储过程中出现的错“位”现象,提出利用ECC算法对数据进行校验和纠错。由于该款NAND FLASH一页数据出现的错“位”现象有时不止一位,而一般的ECC算法其纠错能力只有1 bit/4 kB,故一种纠错能力更强的新型算法将被设计和实现;该新型算法具有8 bit/4 kB的纠错能力和16 bit/4 kB的检错能力,且已成功应用于某数据采集存储系统中。
关键词:错误检查和纠错算法;现场可编程逻辑阵列;与非型闪存