快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制

来源：计算机测量与控制杂志2016年第3期北京时间：

作者：王延,李阳,马德才,林少鹏,王彪

摘要：大多数电子元器件的性能受到工作温度的影响,其温度特性对设备稳定性和精确度的影响不容忽视;以半导体致冷器(TEC)为核心,ATMega128A单片机为控制芯片,采用PT100、高精度恒流源和AD7731数模转换器(ADC)组成温度测量模块,运用改进的PID控制算法,以脉冲宽度调制(PWM)方式驱动优化的H桥精确控制加热和制冷功率,结合优化设计的变温腔体,制作了快速、高精度电子元件温度特性测量仪；在-10~80 ℃之间快速、稳定控制待测元件的温度,控温精度达到±0.2 ℃；通过计算机控制数字万用表等测量设备,测量了电阻、电容和电感的温度特性曲线；该测量仪还可以用于IC、三极管和LED等元器件的温度特性曲线研究；在实验研究、工业生产和电子实验教学中均具备很高的实用价值。

关键词：半导体致冷器;单片机;温度特性曲线

基金资助：国家自然科学基金青年基金(11302268)。