工业以太网芯片单粒子实验测试系统研制
来源：计算机测量与控制杂志2016年第3期北京时间：
作者：夏加高,李文新,朱博,王世佳,王志龙
摘要：分析了单粒子效应对以太网芯片KSZ8851-16MLLJ的内部结构的影响,为全面了解以太网芯片在单粒子实验中的状态,研制出工业以太网单粒子实验测试系统；通过测试系统的实验得出相关参数,为以太网芯片在航天器上的应用提供技术参考；根据单粒子实验的现场情况,研制基于以太网的远程数据采集、控制系统,将测试数据实时地传输到远程观测终端；测试结果表明:单粒子实验测试系统可以对以太网芯片进行全面地监测,并有效地保护该芯片的安全性。
关键词：单粒子;以太网芯片;测试系统 [HJ1.5mm]
基金资助：国家自然科学基金项目(11161041)。
