基于PXI某处理器模块ATE设备的设计与实现
来源：计算机测量与控制杂志2020年第5期北京时间：
作者：曹兴冈,赵斌,
单位：中国航空计算技术研究所
摘要：随着测试技术的飞速发展,高性能、高信价比的PXI测试技术平台应运而生,将其应用于处理器模块综合自动测试设备(ATE)的软、硬系统结构设计,可为PXI测试平台应用于ATE设备提供应用实践平台,并为处理器模块ATE及类似设备提供优良的系统设计方案。其采用模块化、标准化思想,具有普遍的通用性及广泛的推广性。
关键词：PXI平台;ATE设计;计量校准
基金资助：航空(2006ZC31002)
