《计算机测量与控制杂志》发表论文赏析
作者:何丽,彭黎丽
单位:西南电子设备研究所
摘要:针对复杂电子设备在使用过程中多故障诊断难的问题,以相关性模型为基础,提出了一种多故障诊断的设计方法。首先,根据相关性模型确定测试D矩阵,并获得组成单元与测试次数的关系矩阵;其次,根据每次实际测试的结果构建测试结果矩阵,并计算获得测试故障单元矩阵;最后,通过综合测试故障单元矩阵与测试次数关系矩阵的数据,确定故障单元的概率,根据故障概率定位出故障单元。通过实例验算表明:多故障诊断方法可准确定位故障单元,大幅降低误修率。
关键词:多故障;相关性模型;测试性D矩阵;故障诊断;测试性