电子元器件加速退化寿命评估方法研究
来源：计算机测量与控制杂志2021年第11期北京时间：
作者：吕瑛,王振宇,赵岩,张会平,陈娟
摘要：基于退化轨迹的评估方法是退化型产品进行可靠性评估的主要方法，适合于对具有退化失效机理的高可靠长寿命产品进行可靠性评估。基于退化轨迹的可靠性评估方法首先选取合适的退化轨迹模型，利用退化数据对退化轨迹进行模型拟合得到模型参数，然后根据退化轨迹外推得到伪失效寿命，最后基于伪失效寿命利用最小二乘法进行统计分析确定产品的失效分布，并通过假设检验的方法选择拟合度最优的分布。本文以大功率开关的加速退化试验数据为例进行了分析和说明。
关键词：加速试验 贮存 可靠性 评估 寿命
