FPGA互连测试中的反馈桥接故障覆盖问题

来源：计算机测量与控制杂志2022年第4期北京时间：

作者：毛志明,张颖,姚嘉祺,华屹峰,杨济中,陈鑫

单位：南京航空航天大学电子信息工程学院

摘要：现场可编程门阵列(FPGA)内部资源众多,其中互连资源出现故障的概率远远高于片内其他资源,而在以往许多互连测试研究中,所生成的测试配置存在无法覆盖反馈桥接故障的难题,所以较难有测试配置实现故障列表的100%覆盖。因此通过约束桥接故障只发生在单个查找表(LUT)内的信号线上,并结合单项函数,对反馈桥接故障模型进行优化改进,从根本上解决难题；然后对优化后的反馈桥接故障设置相应的约束条件,再使用布尔可满足性理论(SAT)生成满足约束条件的测试配置。采用优化后的故障模型对ISCAS"89基准电路进行了测试配置生成实验,结果表明生成的测试向量解决了反馈桥接故障的覆盖难题,并且在实现故障列表的100%覆盖下,优化后的故障模型所需要的测试配置数最少。

关键词：反馈桥接故障;FPGA;互连测试;应用相关测试;SAT

基金资助：国家自然科学(No.S61701228 andS61106029S),模拟集成电路重点实验室(No.61428020304),航空科学基金(No.S20180852005)。