集成电路综合自动测试系统软硬件接口设计

来源：计算机测量与控制杂志2023年第7期北京时间：

作者：冯建呈,闫丽琴,王占选,周欣萍,孟旭

单位：北京航天测控技术有限公司

摘要：为满足日益增长的集成电路测试需求，研制了集成电路综合自动测试系统。该系统对外包含软件平台接口和硬件平台接口。软件平台接口主要针对在被测集成电路规模越来越庞大的背景下，测试程序开发成本高、但软件测试平台之间不能互相兼容的问题，设计了一种基于自动测试模型的集成电路测试程序开发方法，并采用典型集成电路进行了测试验证，可满足测试程序开发的需要。硬件平台接口主要满足高速信号等的传递需求，设计了基于弹性对接技术的硬件平台接口，并进行了结构尺寸、信号传递特性等指标的测试，测试数据表明，可实现测试接口板与测试头之间的稳定连接，满足最高1.6Gbps、最大2048通道数字信号等的传递需求。

关键词：集成电路测试;接口设计;自动测试模型;Pogo Block;弹性接入