基于FPGA的DDR SDRAM测试平台设计

来源：计算机测量与控制杂志2023年第10期北京时间：

作者：谢树平,毛源豪

单位：湖南艾科诺维科技有限公司

摘要：DDR SDRAM是FPGA板卡中的重要组成部分，其可靠性与带宽决定了设备能否正常工作；为了测试DDR SDRAM的性能是否符合预期，开发了一种基于FPGA的DDR SDRAM测试平台；平台包含一个基于DDR SDRAM控制器的测试器IP核，具有数据校验、带宽测量的功能；编写了控制测试器IP核的Tcl脚本，用于配置测试参数、控制测试流程与读取测试结果；在Python语言下使用PyQt5开发库设计了图形界面程序，能够根据用户操作生成并执行对应的Tcl脚本；最终实现了一个操作简单、测试流程可配置、自动输出测试结果的DDR SDRAM测试平台；测试结果表明，测试平台能够正确地进行DDR SDRAM测试并输出统计结果；对比MIG的示例工程，测试平台额外增加了带宽测试、结果统计、循环测试等功能，且使用的FPGA资源下降了30%，测试用时缩短了70%以上。

关键词：DDR SDRAM;FPGA;Tcl脚本;测试平台; PyQt5