Virtex-5系列SRAM型FPGA单粒子效应重离子辐照试验技术研究

来源：计算机测量与控制杂志2024年第1期北京时间：

作者：赖晓玲,郭阳明,巨艇,朱启,贾亮

单位：西北工业大学计算机学院

摘要：针对SRAM型FPGA在空间辐射环境下易发生单粒子效应，影响星载设备正常工作甚至导致功能中断的问题，开展了SRAM型FPGA单粒子效应地面辐照试验方法研究，提出了配置寄存器和BRAM的单粒子翻转效应测试方法，并以Xilinx公司工业级Virtex-5系列SRAM型FPGA为测试对象，设计了单粒子效应测试系统，开展了重离子辐照试验，获取了配置寄存器、BRAM以及典型用户电路三模冗余前与三模冗余后的单粒子翻转效应试验数据和器件单粒子闩锁试验数据，最后利用在轨预示分析软件针对高轨环境进行了在轨翻转率分析计算，可为该器件的空间应用辐射敏感性分析提供基础数据与加固设计指导。

关键词：SRAM型FPGA;单粒子效应;单粒子翻转;单粒子闩锁;重离子辐照试验

基金资助：飞行器控制一体化技术国防科技重点实验室基金(6142219200205)