基于双核锁步的多核处理器SEU加固方法
来源：计算机测量与控制杂志2024年第3期北京时间：
作者：郭 强,伍攀峰,许振龙
单位：山东航天电子科学技术研究所
摘要：以单粒子翻转为代表的软错误是制约COTS器件空间应用的主要因素之一；为了满足空间应用对高集成卫星电子系统抗辐照防护的要求，提出了一种面向通用多核处理器的单粒子翻转加固方法，通过软件层面双核互检，在不额外增加硬件开销的前提下，充分提高了COTS器件的可靠性，具有良好的可移植性和较强的工程实用价值；进行软件故障注入实验，在程序执行的关键节点注入错误信息，验证该双核互检方法实用性；实验结果表明双核互锁方法可以100%检测出系统中产生的单粒子翻转，抗软错误能力满足应用需要。
关键词：双核锁步;抗辐射加固;单粒子翻转;多核处理器;软件故障注入
