基于ATE的FPGA自动重配置系统设计与验证

来源：计算机测量与控制杂志2024年第12期北京时间：

作者：廖勇,谢栋材,白洋,韦纯进,张亭亭,何莹莹

单位：航天科工防御技术研究试验中心

摘要：针对FPGA内各逻辑资源和电性能参数的自动批量配置测试问题，提出了一种将自动重配置模块、ATE测试平台和上位机软件相结合的应用程序自动重配置系统方案。通过上位机软件在自动重配置模块中完成待测FPGA的应用程序加载，实现软硬件结合。基于XC7A100T型FPGA搭建自动重配置系统，运用三段式状态式实现应用程序自动下载。实验结果表明，该系统可实现待测FPGA在多种配置模式下应用程序自动下载，完成待测FPGA芯片的逻辑资源和电性能参数自动批量测试。对于XC6SLX16-2CSG324-T型FPGA，从并模式下自动配置测试时间仅需7分钟，极大节省了应用程序配置时间，满足各类FPGA自动批量测试需求。

关键词：FPGA测试;自动重配置系统;质量可靠性;自动批量测试