FTIR光谱仪线性度测量分析
来源：计量学报杂志2015年第6A期北京时间：
作者：王苗,蔡静
单位：中航工业北京长城计量测试技术研究所, 北京 100095
摘要：材料的光谱发射率是表征材料表面光谱辐射特性的重要热物性参数。测量材料发射率时,光谱仪光谱响应一般作线性假设,在数据处理时由于非线性误差,会对测量结果的准确度产生影响。因此,需要对仪器响应的线性度进行测量,确定不同探测器对应的仪器光谱响应的线性范围。介绍了测量光谱仪线性度的具体方法,通过对傅里叶红外光谱仪不同温度下能量的测试,确定了DTGS和InGaAs两种探测器的线性范围,为材料发射率的测量提供了理论依据。
关键词：计量学; 发射率; FTIR; 光谱响应; 线性度
