基于控制环境辐射发射率测量方法的超黑涂层发射率特性研究

来源：计量学报杂志2015年第6A期北京时间：

作者：宋健,郝小鹏,原遵东,许敏,龚律宇,文平,徐春媛

单位：中国计量科学研究院 热工计量科学研究所, 北京 100029

摘要：介绍了一种基于控制环境辐射的发射率测量方法。该方法利用两块处于不同温度的辐射板交替放置在待测样品前部,以此来改变环境辐射,通过测量样品辐射能量的变化,计算其反射率进而得出发射率。详细论述了该测量方法的基本原理,实验装置,典型超黑涂层的发射率测量结果,以及测量结果的不确定度。通过扫描电子显微镜等途径研究了超黑涂层的发射率差异与其表面微结构的关系。实验中使用的3种超黑涂层发射率测量结果分别为:0.964,0.901,0.979。测量结果的标准合成不确定度分别为:0.21%, 0.28%和0.22%。

关键词：计量学; 发射率; 控制环境; 超黑涂层; 不确定度

基金资助：国家863计划（2015AA123701）; 国家自然科学基金(11475162); 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室资助课题