2πα、2πβ粒子发射率的绝对测量

来源：计量学报杂志2016年第2期北京时间：

作者：梁珺成,李奇,柳加成,杨志杰

单位：中国计量科学研究院, 北京 100029

摘要：基于大面积流气正比计数器建立了2πα、2πβ粒子发射率测量系统。对该系统进行了性能测试,结果表明其对α平面源的坪长为600～800V,最优平均坪斜为0.2%/100V;对β平面源的坪长为350～400V,最优平均坪斜为0.23%/100V;用点状239Pu α源测得100mm×150mm中心区域的计数均匀性为0.45%。通过对粒子发射率测量结果进行本底、死时间、甄别阈修正,实现了α、β平面源的2π粒子发射率绝对测量,其中对α源发射率测量结果的扩展不确定度优于0.9%(k=2),对β源发射率测量结果的扩展不确定度优于1.1%(k=2)。与2πα、2πβ粒子发射率基准比对测量了233U、241Am等9枚进口的α、β标准平面源,测量结果均在不确定度范围内一致。

关键词：计量学; 核素污染; 平面源; 发射率; 绝对测量