贴X射线成像系统调制传递特性联合检测方法

来源：计量学报杂志2016年第5期北京时间：

作者：母一宁,王贺,李野,李平,朱泠西

单位：长春理工大学, 吉林 长春 130022

摘要：利用光学调制传递函数评价原理,在建立了各个成像子系统信号传递关系的基础上,提出了一种近贴式X射线成像光学调制传递特性检测方法。从像增强器约束、射线源约束和噪声约束这3个角度对近贴式X射线成像系统光学调制传递函数进行理论定标。将近贴式X射线成像系统后端的CCD望远系统换成CCD显微系统并对不同空间分辨率的铅栅进行成像与对比度拟合。实验结果表明:时域均衡可以有效提高拟合精度。其拟合结果表明空间分辨率为10线对/mm时其调制传递函数仍有10%,与理论定标结果基本一致。故传统近贴式X射线成像系统的望远光学镜头分辨率才是真正的成像瓶颈。

关键词：计量学; X射线; 电子光学系统; 调制传递函数; 分辨率

基金资助：国家技术创新基金（13C26212201166）;吉林省青年科研基金(20140520122JH)